یاری فایل

مرجع دانلود فایل ,تحقیق , پروژه , پایان نامه , فایل فلش گوشی

یاری فایل

مرجع دانلود فایل ,تحقیق , پروژه , پایان نامه , فایل فلش گوشی

تحقیق درمورد تکنیک های پراش SAS

اختصاصی از یاری فایل تحقیق درمورد تکنیک های پراش SAS دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

تحقیق درمورد تکنیک های پراش SAS


تحقیق درمورد تکنیک های پراش SAS

فرمت فایل:  ورد ( قابلیت ویرایش ) 


قسمتی از محتوی متن ...

 

تعداد صفحات : 75 صفحه

فهرست مقدمه 4 چکیده 6 فصل اول تکنیک های پراش با زاویه کوچک(SAS) 7 1-1- تکنیک های پراکندگی زاویه کوچک (SAS) 8 2-1- پخش (ارسال) نوری: 17 3-1- ارسال نوترون زاویه کوچک( (SANS 21 فصل دوم تئوری SAXS 24 1-2- قانون Guinier و شعاع دوران 29 2-2- تداخل بین ذره ای (Interparticle Interference) 31 فصل سوم تجهیزات (SAXS) 33 1-3- تجهیزات آشکارسازی شمارنده ای 34 1-1-3- دیفرکتومتر چهار شکافی (Four –Slit diffractomter) 35 2-3- دوربینهای شناسایی فتوگرافیکی 37 1-2-3- دوربین kratky 38 3-3- تجهیزات سیستم SAXS نصب شده در شرکت مترولوژی (UMASS) 42 1-3-3- منبع تشعشع 42 2-3-3- جداسازی و برد q: 44 3-3-3- آشکارسازهای سطح: 49 4- 3-3- محفظه های مربوط به نمونه: 53 5-3-3- سیستم خلاء 55 6-3-3- سکوئی برای سیستم نصب: 55 7- 3-3- سیستم ایمنی: 55 8-3-3- الکترونیک و اینترفیس (واسطه) کامپیوتری: 56 9- 3-3- نرم افزار آنالیز داده ها 57 10-3-3- تجهیزات جانب یبرای عملکرد بهینه: 58 11- 3-3- گزینه ها: 59 فصل چهارم شرایط و دستورالعمل آزمایشگاهی 60 1-4- تکفام کنندگی و انتخاب طول موج 61 2-4- تنظیم و ساخت شکاف (slit) 61 3-4- خلاء لازم 62 4-4- روش آشکارسازی 62 5-4- آماده سازی نمونه ها 63 6-4- نمونه ها 63 7-4- نمونه های استاندارد 63 8-4- زمان آنالیز 64 فصل پنجم تصحیح داده ها 65 فصل ششم آنالیز داده های SAXS 67 فصل هفتم کاربرد SAXS 71 فصل هشتم مزایا و معایب روش SAXS 74 منابع: 76 مقدمه ذرات فلزی با اندازه نانو نقش مهمی را در مهندسی مواد ایفا می کنند چون که ویژگیهای ذرات با اندازه نانو با ویژگیهای بقیه مواد متفاوت است ]1[ توزیع اندازه ذرات نانو با استفاده از تکنیک میکروسکوپ TEM قابل اندازه گیری است TEM یک تکنیک فوق العاده مفید برای حصول اطلاعاتی نظیر توزیع اندازه ذره ، اندازه متوسط ذره و شکل ذرات نانو است ]1[ اندازه گیری TEM نیاز به عملیات پیچیده برای آماده سازی نمونه و مهارت بالای اپراتور دارد و زمان اندازه گیری طولانی است بعلاوه تکنیک TEM یک روش اندازه گیری در محل (In situ) نیست و تعداد ذرات اندازه گیری شده از فتوگراف ، در اغلب موارد از اندازه گیریهای تئوریکی کمتر است ]1[ بنابراین اکثر محققان در ارتباط با نانو تکنولوژی در جستجوی یک روش مناسب و یک روش In situ برای اندازه گیری توزیع ذرات نانو بودند این روشها بر اساس پراکندگی در زوایای کوچک استوار بود ]1[ Small-angle scattering =SAS SAX در واقع یک نام کلی است که برای مجموعه ای از تکنیکهای زیر بکار می رود]2[ Small-angle Light Scattering (SALS) Small-angle x-Ray scattering (SAXS) Small-angle Neutron scattering (SANS) در تمامی تکنیکهای فوق پراکندگی بصورت الاستیک بوده و اطلاعاتی در خصوص اندازه، شکل و توزیع ذرات بدست می آید تفاوت کلی تکنیکهای فوق در منبع تابش است که بر فاکتورهای زیر مؤثر است : الف ) تفاوت در نمونه هایی که می توانند آنالیز شوند ب ) تفاوت در بخش های قابل بررسی ج ) تفاوت در اطلاعات نهایی حاصل ]2[ بطور کلی در تکنیک SAXS، particles ها مسئول ایجاد پراکندگی هستند د

متن بالا فقط تکه هایی از متن به صورت نمونه در این صفحه درج شده است.شما بعد از پرداخت آنلاین فایل را فورا دانلود نمایید

بعد از پرداخت ، لینک دانلود را دریافت می کنید و ۱ لینک هم برای ایمیل شما به صورت اتوماتیک ارسال خواهد شد.


دانلود با لینک مستقیم


تحقیق درمورد تکنیک های پراش SAS